Microscopio elettronico a scansione (SEM)

La struttura microscopica delle leghe può essere evidenziata, dopo opportuno attacco chimico, dall’osservazione con il Microscopio elettronico a scansione (SEM) che, grazie alla sonda per microanalisi, ci consente anche la valutazione della composizione chimica qualitativa (EDX) della zona osservata.
Il sistema SEM/microanalisi rende possibile inoltre la caratterizzazione dell’interfaccia metallo/ceramica o metallo/composito, essenziale nella fase di ricerca di nuovi materiali.